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霍尔效应测试分析仪产品推出!
发布者:admin  发布时间:2014-4-9 浏览第49

公司最新产品推荐,Hall8800300K77K)、Hall8686变温型(77K-423K)Hall8888变温型(77K-623K)霍尔效应分析仪,产地:台湾,性能优越! 

HALL8800型霍尔效应测量系统主要为结合霍尔效应及van der pauw方法四点测量分析薄膜材料的电阻率,载子浓度(N Type & P TYPE)及迁移率等相关参数信息, 温度范围在室温(300K)77K环境下测试;另外HALL8686型及HALL8888型可提供变温环境测试,温度范围分别为:77K-423K/77K-623K。薄膜材料包括SiGesige,sic,gaas,ingaas,inp,gan,zno,graphene等各类半导体材料,HALL系列霍尔 效应测试仪可应用于科学研究,教育以及产品测试等研发应用。

相应技术参数请参数网站信息:http://www.ipa-china.cn/pr-254.html

更多产品配置信息请联系我们!

Tel:010-56212963      024-31336842

EMAIL:sales@ipa-china.cn  service@ipa-china.cn  

公司配有HAll8800DEMO机,可提供各类样品测试,用户演示等服务.