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测试/演示用HALL8800霍尔效应分析仪
发布者:admin  发布时间:2014-4-9 浏览第45

HALL8800型霍尔效应测试分析仪 测试、演示用样机  

为满足各用户的使用测试及产品演示需求,我公司备有HAll8800型霍尔效应测试分析仪示用机,可提供各类样品的测试及相应服务;  

公司霍尔效应分析仪最新产品型号:

Hall8800(温度范围:300K77K

Hall8686变温型(温度范围:77K-423K)

Hall8888变温型(温度范围:77K-623K)

产地:台湾   

HALL8800型霍尔效应测量系统主要为结合霍尔效应及van der pauw方法四点测量分析薄膜材料的电阻率,载子浓度(N Type & P TYPE)及迁移率等相关参数信息, 温度范围在室温(300K)77K环境下测试;另外HALL8686型及HALL8888型可提供变温环境测试,温度范围分别为:77K-423K/77K-623K。薄膜材料包括SiGesige,sic,gaas,ingaas,inp,gan,zno,graphene等各类半导体材料,HALL系列霍尔 效应测试仪可应用于科学研究,教育以及产品测试等研发应用。

相应技术参数请参数网站信息:http://www.ipa-china.cn/pr-254.html

更多产品配置信息或演示、测试需求请联系我们!

Tel:010-56212963      024-31336842

EMAIL:sales@ipa-china.cn  service@ipa-china.cn